用 X射線衍射法研究多晶樣品的成分和結構的一種實驗方法,也稱粉末法。多晶是指由無數微細晶粒組成的細粉狀樣品或塊狀樣品。
多晶衍射有照相法和衍射儀法兩類。常用的粉末照相法為德拜-謝樂法(圖1)。
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當單波長X射線照到一個細晶上時,若某一晶面與入射線的交角滿足佈喇格方程(見晶體X射線衍射)的要求,則在衍射角2θ處產生衍射線,在底片上形成一衍射點(圖2)。
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多晶衍射儀法的原理與照相法類似,隻是用射線記數器記錄衍射線的位置和強度,加上與電子計算機聯用,可使測量的準確度高、分辨能力強且迅速方便,並能自動將樣品的數據與計算機貯存的標準數據對照而鑒定樣品的物相。
參考書目
H.P.Klug and L.E.Alexander,X-ray DiffractionProcedures for Polycrystalline and AmorphousMaterials,2nd ed.,John Wiley &Sons,New York,1974.