運用射電幹涉技術進行天體測量的一門學科，天體測量學的一個分支。二十世紀六十年代後期，甚長基線幹涉儀的試驗成功，使解析度和精度大為提高，從而使射電天體測量成為一門獨立學科，並得到迅速發展。目前射電幹涉測量的定位精度，已達到和光學定位精度相近的程度。射電天體測量方法，有甚長基線幹涉測量和傳統式幹涉測量兩種。後者主要是將天線用電纜（或微波傳輸）直接連接到接收系統上，並立即測量信號到達天線時的相位差。同光學天體測量相比，射電天體測量有下列優點：①無論角度大小，測量量精度基本上是一樣的，因此沒有光學天體測量通常所具有的比較大的區域性系統誤差；②在射電天體測量中，大氣折射的影響比一般光學觀測為小，因為所測量的是信號到達不同天線時的時間差或相位差，而不是天體的視方向；③可自動地以地球瞬時自轉軸為參考，對赤緯進行絕對測定；④可根據觀測值，同時解算出天體的位置、基線參數和儀器參數，因此，後二者的誤差對天體位置基本上沒有影響；⑤射電觀測在白天（包括雲霧天氣）都可進行，比光學觀測有更多的觀測時間。射電天體測量在提供慣性參考系和精確測定某些天文常數方面有十分重要的作用；還可進行世界時、極移和地面點坐標的測定，以及有關的天文地球動力學方面的研究。