以不接觸光學定位方法瞄準被測長度,主要用於測量線紋距離的精密長度測量工具。
比長儀一般採用測量顯微鏡或光電顯微鏡作為瞄準定位部件,並以精密線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度,與被測長度比較而確定量值。比長儀主要用於檢定線紋尺,測量分劃板上的線距和物理、天文類照相底片上的光波譜線距離,也可用於測量孔徑。
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以不接觸光學定位方法瞄準被測長度,主要用於測量線紋距離的精密長度測量工具。
比長儀一般採用測量顯微鏡或光電顯微鏡作為瞄準定位部件,並以精密線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度,與被測長度比較而確定量值。比長儀主要用於檢定線紋尺,測量分劃板上的線距和物理、天文類照相底片上的光波譜線距離,也可用於測量孔徑。