發光體的發光強度在激發停止後隨時間的衰減現象。發光體在外界激發下發光，當激發停止後，發光持續一定時間，這是發光與其他光發射現象的根本區別。在持續期間，發光強度按一定規律衰減。這一過程稱為發光衰減或發光弛豫或發光餘輝。
衰減過程反映發光中心處於激發態的平均壽命。餘輝持續時間的長短是應用發光體時的重要依據。
發光的衰減規律比較複雜。其中有兩種常見的衰減形式：①指數衰減律。發光強度I<(t)可用
表示，其中
τ為平均發光時間，
I
o為起始發光強度，
t為時間。分立中心發光體具有這種衰減規律，常稱為單分子過程。在固體中各個發光中心所處的環境不同，通常表現為
τ值不同，衰減表示為幾個指數函數之和。②雙曲線衰減律。發光強度
I(
t)可用
I
o／(1+
Q
t)
α表示，其中1＜
α＜2。這種發光可以是由於任一被電離的發光中心與電離至導帶的任一電子的復合而產生的，常稱為雙分子過程。但常見的衰減過程是兩者的混合或更為復雜的過程，它們各自反映的發光過程可以用
分時光譜技術分別加以研究。
根據應用時對發光餘輝的不同要求，已有各種餘輝的發光體，從超短餘輝（餘輝時間小於1微秒）的飛點掃描發光材料到超長餘輝（餘輝時間大於 1秒）作為雷達及長時照明的發光材料。這兩類材料都需要引入特殊的雜質，前者引入快速猝滅中心，後者引入深陷阱中心。