用鐳射再現全息幹涉法拍攝的承受載荷的構件的全息圖時，可重新形成構件受載前後的兩個波陣面。由於這兩個波陣面的幹涉，獲得一組包含著構件變形位移資訊的幹涉條紋（見圖）。對這些幹涉條紋進行定量分析，可得出受力構件的表面由於載荷作用而產生的整個位移場和應變場。這樣，就能解決複雜情況下工程構件的強度和剛度問題。這種非接觸式的測量方法，靈敏度很高（按鐳射波長的數量級計），並可得到任意位移向量的三個座標分量。
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1965年，R.L.鮑威爾和K.A.斯特森用波陣面再現幹涉現象分析振動問題後，這種新方法便在實驗應力分析領域中獲得廣泛的應用。1976年，J.D.佈賴爾斯將許多學者對含有物體變形位移信息的幹涉條紋的計量和分析解釋的方法，歸納為四種主要的定量分析方法：條紋定位法(FL法)、條紋計數法(FC法)、零級條紋法(ZF法)、和等傾幹涉條紋法(HF法)，其中用得較多的是FC法、ZF法及其綜合方法。